特徴

最新のCMOSラインセンサを搭載したカメラとリニアサーボテーブルを組み合わせて、
高品質な画像データを取り込み、電子基板のスルーホール検査を行います。

設計データを読み込み、穴数・穴面積・穴形状・穴位置を高速比較判定検査をします。

複数台のカメラを一括制御し、高視野・高分解能での検査が可能となりました。

デモ機の貸し出し受け付けております。

特徴

最新のCMOSラインセンサを搭載したカメラとリニアサーボテーブルを組み合わせて、
高品質な画像データを取り込み、電子基板のスルーホール検査を行います。

設計データを読み込み、穴数・穴面積・穴形状・穴位置を高速比較判定検査をします。

複数台のカメラを一括制御し、高視野・高分解能での検査が可能となりました。

デモ機の貸し出し受け付けております。

機能

ハードウェア

  • 8K320Mhz のラインセンサカメラを複数台、一括制御(最大6 台まで制御可能)
  • 高精度リニアサーボテーブル、リニアゲージを採用し、カメラとの同期を取る事で高精度な位置検査を実現
  • 独自開発の高照度LED照明により、検査品質を落とさず、長寿命・省電力化を実現

ソフトウェア

  • 検査したい箇所と検査項目を任意で設定可能です
  • 検査項目は、穴数、穴面積、穴形状、穴位置を設定可能です
  • 最大処理穴数1000万穴を達成(画像サイズ20GB以内)
  • CADデータをマスターとしての検査が可能
  • ガーバデータをマスターとして比較検査が可能(対応ガーバ:標準・拡張274X)

標準仕様

標準構成は以下の表の通りです。
計測したい基板の穴数・測定精度をご連絡頂き、最適な光学系を選定致します。

対象基板薄板基板
検査方式CMOSカメラによる光学的方式
光学系構成CMOSラインカメラ8000bit 320MHz
光学系分解能4.7μm
制御装置PC
PCスペックOS:Linux 64bit (CentOS)
メモリ:16GB  HDD容量:1TB
電源AC 200V 3相 15A
装置サイズ幅740mm x 高さ1835mm x 奥行960mm

オプション例

  • お客様の社内システムと連動
  • 撮り貯めたNGデータの解析・調整を別PCにて実施

・・・etc

ご要望があれば、お気軽にお問い合わせください。